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動態光散射粒徑分析儀 ( Nanotrac Wave II ) 

Nanotrac Wave II 基本原理 測量結果

產品規格  

操作原理 三束3mW 780nm Laser, 電腦控制自動校正, 搭配光電二極體檢知器做粒徑分析
粒徑範圍 0.8 - 6500nm
Zeta電位 +/-200mV, Mobility 0-15.5 microns/sec/volt/cm, size range: 10nm–20um
樣品濃度 ppm – 40%
測量誤差 ≤1%
測量時間 30-120秒
所需樣品量 150uL – 2mL
測量方式 濕式測量

產品特色  
1.採用最新的動態光散射技術,可同時做粒徑及Zeta電位分析
2.專利的“Y”型光纖光徑系統,通過藍寶石測量視窗,直接測量懸浮體系中的顆粒細微性分佈及同一體系的Zeta電位,避免樣品交叉污染與濃度變化
3.專利的異相都卜勒頻移技術,較傳統方法獲得光信號強度高出幾個數量級,提高分析結果的可靠性
4.專利的可控參比方法(CRM),能精細分析都卜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度
5.專利的快速傅利葉變換演算法,縮短分析時間
6.專利膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度
7.無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內即可得到分析結果
8.分析軟體符合21 CFR PART 11藥廠規範

 
 
製造商  
 
製造商網址:http://www.microtrac.com/

 
檔案下載  
[電子型錄]Nanotrac Wave II
( 動態光散射粒徑分析儀 )
[技術資料]Nanotrac Wave II
( 高濃度樣品粒徑分析 )
[技術資料]Nanotrac Wave II
( 低濃度樣品粒徑分析 )
 
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